AFM Tapping Mode Fordele

Et mikroskop er en enhed, der tillader en at se meget små objekter. I dag er der mange forskellige typer af mikroskop og disse omfatter optiske, elektron og atomic force mikroskop (AFM) . AFM består af en cantilever , hvorpå der er en atomically skarp spids . Da spidsen er scannet over en prøve overflade , den kraft mellem spidsen og prøven fører til cantilever bevæger sig op og ned med overfladen. AFM Tapping Mode
p Der er to primære former for AFM. Den første tilstand er kendt som kontakt-tilstand , og i denne konfiguration spidsen er fysisk trukket hen over prøvens overflade . Da spidsen bevæger sig op og ned som svar på de funktioner på overfladen er højden detekteres via en laserstråle reflekteres fra cantilever overflade. I trykke mode , er spidsen ikke komme i kontakt med overfladen , men i stedet oscillerer op og ned med en konstant højde over overfladen. Da spidsen sideværts scanninger over prøvens overflade , den kraft mellem spidsen og prøven fører til en ændring i svingningsamplituden der detekteres af en laserstråle reflekteres fra cantilever overfladen.
Tip Preservation

Kontakt mode involverer trække af spidsen over prøvens overflade . Selvom kontakt mode tips er hårdt, kan de uundgåeligt blive beskadiget, hvis prøven funktioner er brat, og tips skal udskiftes ret ofte . Trykke mode tips skal i princippet aldrig komme i kontakt med overfladen , og det betyder, at spidsen har en længere levetid end de kontakte mode ækvivalenter. Da AFM tips er dyre, trykke mode er den mest omkostningseffektive midler til at gennemføre studier.
Sample Preservation

Kontakt mode er meget invasiv , da spids gør fysisk kontakt med prøven. Dette kan føre til beskadigelse af prøvens overflade og ofte en del af spidsen materiale deponeres på prøvens overflade . Trykke mode gør ikke kontakt med prøven , og prøven overfladen bør forblive ren .
Magnetic Force Microscopy

Undertiden er det nødvendigt at kortlægge de magnetiske egenskaber af en prøve. Når en magnetisk spids kommer i kontakt med prøven , kan det være vanskeligt at løse de kræfter på spidsen som følge af magnetisme , og de lige fra topologi af prøven. Da magnetisme er en langtrækkende kraft , mens topologiske kræfter er kort rækkevidde , trykke mode , der finder sted ved en konstant højde over prøvens overflade , giver højde og magnetisk oplysninger, der skal adskilles.